ГОСТ 18986.7-73. Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

.
Наименование документа:ГОСТ 18986.7-73
Тип документа:ГОСТ(Государственный стандарт)
Статус документа:Действует
Название:Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Название англ.:Semiconductor diodes. Method for measuring life time
Область применения:Стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: - для импульсных и смесительных диодов СВЧ; - для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ.
Краткое содержание:

1 Метод измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда для импульсных и смесительных диодов СВЧ

2 Метод измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ

Комментарий:Документ имеет отметку * Ограничение срока действия снято: Протокол № 2-92 МГС от 05.10.92 (ИУС № 2-93)
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.12.2013
Дата введение:01.01.1975
Доступно сейчас для просмотра:100% текста. Полная версия документа.
Организации:
Связанные документы:

ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения

ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления

ГОСТ 19656.0-74 Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения

.
Помните!
Вся полученная прибыль с сайта идет на развитие проекта, оплату услуг хостинг-провайдера, еженедельные обновления базы данных СНИПов, улучшение предоставлямых сервисов и услуг портала.
Скачайте «ГОСТ 18986.7-73. Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда» и внесите свой малый вклад в развитие сайта!