ГОСТ 28623-90. Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы

.
Наименование документа:ГОСТ 28623-90
Тип документа:ГОСТ(Государственный стандарт)
Статус документа:Действует
Название:Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
Название англ.:Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
Краткое содержание:

Предисловие

Введение

1. Область применения

2. Общие положения

2.1 Порядок приоритетности нормативно-технических документов (НТД)

2.2 Используемые документы

2.3 Единицы физических величин, термины и обозначения

2.4 Предпочтительные значения

2.5 Маркировка

2.6 Категории качества сертифицированных приборов

2.7 Отбраковочные испытания

3. Порядок сертификации приборов

3.1 Требования к испытаниям на утверждение соответствия приборов ТУ

3.2 Закрытая информация промышленного значения

3.3 Комплектование контролируемых партий

3.4 Конструктивно-подобные приборы

3.5 Утверждение соответствия приборов ТУ

3.6 Контроль соответствия заданному уровню качества

3.6.1 Деление испытаний на группы и подгруппы

3.6.2 Требования к контролю

3.6.3 Дополнительная методика облегченного контроля

3.6.4 Требования к выборочному контролю партий малых объемов

3.6.5 Сертификационные протоколы выпущенных партий (СПВП)

3.6.6 Поставки приборов, подвергнутых разрушающим или неразрушающим испытаниям

3.6.7 Задержка поставок

3.6.8 Дополнительное условие поставок

3.7 Порядок проведения статического выборочного контроля

3.8 Испытания на срок службы при заданном значении LTPD

3.9 Испытания на срок службы при заданной интенсивности отказов

3.9.1 Общие сведения

3.9.2 Комплектование выборок

3.9.3 Отказы

3.9.4 Продолжительность испытаний на срок службы и объем выборки

3.9.5 Процедура, применяемая при числе отказов, превышающем приемочное число

4. Испытания и измерения

4.1 Нормальные атмосферные условия для измерения электрических параметров

4.2 Проверка физического состояния

4.2.1 Визуальный контроль

4.2.2 Размеры

4.2.3 Стойкость маркировки

4.3 Измерения электрических параметров

4.4 Испытания на воздействие внешних факторов

Приложение А. Планы выборочного контроля по допустимому проценту дефектных изделий в партии (LTPD)

Приложение B. Проверяемые размеры

Приложение с. Направления приложения сил при механических испытаниях

Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.12.2013
Дата введение:01.01.1991
Доступно сейчас для просмотра:100% текста. Полная версия документа.
Организации:
.
Помните!
Вся полученная прибыль с сайта идет на развитие проекта, оплату услуг хостинг-провайдера, еженедельные обновления базы данных СНИПов, улучшение предоставлямых сервисов и услуг портала.
Скачайте «ГОСТ 28623-90. Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы» и внесите свой малый вклад в развитие сайта!